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场发射扫描电子显微镜 SEM
场发射扫描电子显微镜 SEM
仪器编号
SJ202504425
型号
Sigma 560
生产厂家
放置地点
Array B113
联系人
赵凌云
联系邮箱
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主要规格及技术指标

1.标准模式下,二次电子分辨率:0.5nm(15kV),1.0nm(1kV),1.5nm(0.5kV);
2.电子束流范围3pA~20nA,束流稳定性0.2%/h;
3.能谱能量分辨率127eV(Mn Kα),元素分析范围Be4~Cf98。

主要功能及特色

场发射扫描电镜利用高能聚焦的电子束扫描样品表面,通过电子与物质相互作用产生二次电子、背散射电子等信号,不同的探测器接受这些信号,从而对样品的微观形貌、成分衬度等进行观察。同时,配置EDS、EBSD探测器可以进行成分和晶体结构的分析。因其具有分辨率高、景深长、视野大、成像立体感好、试样制备简单、信息丰富、扩展性强等特点,广泛应用于金属、新能源、新材料、地矿油气、半导体、生物医学、考古文博等多个领域,是科学研究中不可或缺的利器。

主要附件及配置

公告名称 公告内容 发布日期