主要规格及技术指标

（1）X射线管：Mo靶，管电压10~45kV，管电流1~40mA；
（2）能量覆盖范围：5~20keV（需更换不同的弯晶单色器）；
（3）能量分辨率（ΔE/E）：2~5×10-4@8keV；
（4）重复性：同一单色器测量条件下，连续测量同一样品的能量漂移＜50meV；
（5）晶体单色器：Si、Ge晶体等16种；
（6）目前可测试XAFS的元素：Ti、V、Cr、Mn、Fe、Co、Ni、Cu、Ga、Ge、Br、Y、Nb、La、Ce、Pr、Nd、Sm、Gd、Dy、Er、Yb、Lu、Zn、Ir、Au、Bi、U；

主要功能及特色

X射线吸收精细结构谱（X-ray absorption fine structure spectroscopy, XAFS）技术可以给出中心吸收原子的氧化态、配位构型、电子态以及周围配位原子的种类、距离、配位数、无序度等信息。相较其他材料表征手段，XAFS技术具有不依赖材料长程有序结构、具备原子尺度探测能力、方便搭载各类原位反应装置等优异特性。TableXAFS-3000谱仪突破了长久以来XAFS技术对于同步辐射光源的依赖，可足不出户的在实验室开展多种样品的XAFS/XES测试与实验。
样品要求
（1）样品体系：粉末、碳纸、薄膜和液体等均可。
（2）粉末样品送样前需提前研磨至400目以下，测试前需了解样品的ICP信息，粉末样品需求量取决于待测元素的质量含量，参考值为10 wt%以上需要100 mg、5-10 wt%需要300mg、5 wt%以下需要500mg。如样品量不够请携带ICP结果与测试老师讨论。
（3）碳纸、薄膜类样品面积不小于1.0cm×1.5cm，在测试前请携带基底材料与膜层材料信息与测试老师讨论。
（4）溶液类样品要求待测元素浓度高于1 mol/L。
（5）常温下易挥发、易变质的样品暂不支持测试。

主要附件及配置

1、高温高压气固反应原位池（加热温度500℃，气体压力1MPa）
2、二次电池原位池（适用于锂离子电池正极材料的研究）
3、单室三电极电催化原位池
4、光催化气固反应原位池